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IPEN promove treinamento em microscopia eletrônica aplicada à ciência forense

Segundo organizadores, o curso é destinado a alunos de pós-graduação, mas com participação aberta para alunos de iniciação científica

Apesar de ter estreita relação com a criminalística, a Ciência Forense não se restringe apenas à investigação de crimes. O conjunto de todos os conhecimentos científicos e técnicos nessa área é utilizado também para assuntos legais cíveis, penais ou administrativos, e seus métodos se estendem a outras áreas científicas, sendo uma ciência interdisciplinar que envolve física, química, biologia, entre outras.

Nesse contexto a microscopia eletrônica de varredura (MEV) é uma das mais importantes ferramentas na análise de materiais e vem sendo amplamente utilizada em pesquisas forenses tanto clássica como nuclear. Seus princípios de funcionamento básico, assim como conceitos físicos das interações entre elétrons e superfícies e o sistema de análise por energia dispersiva de raios-x serão apresentados no curso "Aplicações da microscopia eletrônica nas ciências forenses clássica e nuclear”, promovido pelo Centro de Lasers e Aplicações (CLA) do IPEN, a ser realizado nos dias 10, 17 e 24 de maio, e 7 de junho serão apresentados

"O objetivo principal do curso é fornecer uma visão geral do uso do microscópio eletrônico em investigaçõesforenses clássicas e nucleares , com a exposição de casos resolvidos”,informou Jorge Eduardo de Souza Sarkis, pesquisador responsável pelo treinamento e atuante nesse campo científico.

Ministrado pelo físico perito forense e pós-doutorando do CLA, Osvaldo Negrini Neto, doutor em Ciências, e por Sarkis, o treinamento está dividido em dois módulos: "Funcionamento básico e operação de MEV” e "Interações elétrons-amostra”, ambos com aulas teóricas e práticas. No primeiro, que acontece em 10 de maio, das 14h às 17h, serão abordados os seguintes tópicos: As bases da formação da imagem no MEV; Lentes eletrônicas e bobinas de deflexão; Aberrações da imagem; Profundidade de campo; Preparação de amostras e Aplicações Forenses Clássica e Nucleares.

O segundo módulo, no dia 17 de maio, mesmo horário, abordará os tópicos Espalhamento inelástico; Espalhamento elástico; Elétrons retroespalhados; Emissão de raios-x, Análise por energia dispersiva (EDS) e Aplicações Forenses Clássicas e Nucleares I. As aulas práticas serão realizadas nos dias 24 de maio e 7 de junho, também no período da tarde, totalizando 20 horas-aulas ao longo de quatro encontros. Todas as aulas serão na Sala de Seminários do CLA, e as práticas estão planejadas para ao Laboratório de Multiusuários do CLA.

O curso destina-se a alunos de pós-graduação (mestrado e doutorado) com participação aberta para alunos de iniciação científica. As vagas são limitadas e as inscrições poderão ser feitas até o dia 9 de maio, através de e-mail dirigido ao Prof. Jorge Sarkis jesarkis@ipen.br e ao Prof. Osvaldo Negrini osvaldo.negrini@ipen.br. Os interessados devem informar o departamento e orientador.

Sobre o MEV– É um tipo de microscópio eletrônico capaz de produzir imagens de alta resolução da superfície de uma amostra. Devido à maneira com que as imagens são criadas, imagens de MEV têm uma aparência tridimensional característica e são úteis para avaliar a estrutura superficial de uma dada amostra.

Expertise – Em março de 2016, o IPEN promoveu, em parceria com a Agência Internacional de Energia Atômica (AIEA), e sob a coordenação de Sarkis, o "Curso Regional de Introdução à Ciência Forense Nuclear", com a participação de 42 alunos, a maioria de países latino-americanos

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Ana Paula Freire, jornalista MTb 172/AM
Assessoria de Comunicação Institucional

 

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