Metrologia 2017 - Prazo para envio de resumos prorrogado até 4 de agosto
O evento acontece em Fortaleza, CE, de 26 a 29 de novembro
Demanda por calibração e preço do produto serão temas de sessões técnicas. André Luiz Meira de Oliveira, da Fundação CERTI, falará sobre preço do produto e uma mesa-redonda sobre o tema vai reunir representantes do LCR/UERJ, Metrobras e IRD. A pesquisadora do Ipen Linda Caldas aborda o tema "Garantia da qualidade em radiações ionizantes em um mundo em mudanças".
A palestra magna de abertura do Metrologia 2017 caberá a Flávio Grynszpan, consultor na área de inovação, ex-presidente da Motorola do Brasil e professor titular da COPPE/UFRJ. Outros temas de grande destaque serão apresentados na sala principal do Metrologia 2017, por profissionais do PTB (instituto nacional de metrologia da Alemanha), Kastler Brossel (laboratório de pesquisas especializado da França) e NIST (instituto norte-americano sobre padronização e tecnologia).
Educação em metrologia: fator de desenvolvimento é tema de Mozart Neves, do Instituto Ayrton Senna, no dia 28, que trará ainda uma mesa-redonda sobre o assunto. As principais mudanças na norma ISO 17025 é tema de Vitor Pavloc Miranda, da Coordenação Geral de Acreditação do Inmetro, dia 29.
Para inscrições e submissão de trabalhos acesse metrologia2017.org.br.